橢圓偏振儀

薄膜製程對於半導體、太陽能電池等至關重要。
橢偏儀是一種利用光來測量薄膜厚度的設備。它可以非接觸、無損地測量樣品,具有測量精度高的特性。
橢圓偏振儀應用於半導體製程中薄膜厚度的測量。
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高解析度橢偏儀

品牌:Photonic Lattice

桌上型橢偏儀

品牌:Photonic Lattice