品牌：Star Tech
型號 :
XUV-18 / XUV-25
STI 推出全新校準標準 XUV-25 和 XUV-18 型號，並具備 NIST 可追溯性。
專為 OEM、科研和實驗室應用而設計，用於測量 X 射線和極紫外線波段的能量。
標準孔徑為 25 mm和 18 mm，可選配 35 mm孔徑。系統可提供高達 1x10-10 torr. 的真空相容性。
整套系統配備高穩定性數位放大器，增益範圍高達 5 個十進制，使用者可選或自動增益。
系統標配 USB 2.0、Wi-Fi、藍牙介面以及 BNC 介面。
| 探測器型號 | XUV-18/25 |
|---|---|
| 孔徑 | 18、25、35 mm（標準規格，其他尺寸可訂製） |
| 波長範圍 | 1-200 nm（見以下圖表） |
| 輸入 | 1 nA 至 9 mA 峰值 |
| 類比輸出 | 0.05-5 VDC |
| 尺寸 |
XUV-18：2.5 x 1.0 英寸 XUV-25：2.73 x 2.0 英寸 |
| 型號 | 孔徑（公釐） | 能量測量 | 功率測量 | 波長範圍 |
|---|---|---|---|---|
| XUV-18C-VAC | 18 | 可測 | 可測 | 1 nm - 200 nm |
| μXUV-16-VAC | 16 | 可測 | 可測 | 1 nm - 200 nm |
| XUV-25 | 25 | 可測 | 可測 | 1 nm - 200 nm |
| VHR-25 | 25 | 可測 | 可測 | 157 - 410 nm |
| VHR-38 | 38 | 可測 | 可測 | 157 - 410 nm |
| VHR-50 | 50 | 可測 | 可測 | 157 - 410 nm |
| VHR-89 | 89 | 可測 | 可測 | 157 - 410 nm |
| XR-10 | 10 | 可測 | 可測 | 157 - 410 nm |
| XR-16 | 16 | 可測 | 可測 | 157 - 410 nm |
| XR-20 | 20 | 可測 | 可測 | 157 - 410 nm |
| XR-25 | 25 | 可測 | 可測 | 157 - 410 nm |
| XHR-16 mini-probe | 16 | 可測 | 可測 | 157 - 410 nm |
| XR-16R-10 | 16 | 可測 | 可測 | 157 - 410 nm |
| BEM-25 | 25 | 可測 | 可測 | 157 - 410 nm |
| BEM-38 | 38 | 可測 | 可測 | 157 - 410 nm |
| BEM-50 | 50 | 可測 | 可測 | 157 - 410 nm |
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NIST 可追溯（5nm 至 200 nm）