品牌：Multi-Field
熱導率和塞貝克測量絕對數值偏差控制在5%以下;
內置自動反覆運算演算法，用於不同溫度下的最佳 deltaT 選擇;
搭配專業測量儀，一站式高精度測量;
通過切換到不同的測量模組，支援塊體熱輸運和薄膜熱電係數測量;
1.5至400 K和高達18 Tesla的磁場下可用;
相容多種低溫測量平臺：MultiFields® ColdTUBE， 南京鵬力®， Oxford@ TeslatronPT， QD® PPMS， Cryogenics® 等
內置自動反覆運算演算法，用於不同溫度下的最佳 deltaT 選擇;
搭配專業測量儀，一站式高精度測量;
通過切換到不同的測量模組，支援塊體熱輸運和薄膜熱電係數測量;
1.5至400 K和高達18 Tesla的磁場下可用;
相容多種低溫測量平臺：MultiFields® ColdTUBE， 南京鵬力®， Oxford@ TeslatronPT， QD® PPMS， Cryogenics® 等
| 參數分類 | 參數項目 | 規格說明 |
|---|---|---|
| 01. 系統工作環境 | 樣品桿工作環境 | 1.5 ~ 400 K，最高 18 T |
| 可適配平台 | 適配 Oxford TeslatronPT、PPMS、Cryogenics 等第三方低溫系統 | |
| 02. 熱輸運測試性能 | 適用樣品類型 | 塊體 & 薄膜 * |
| 熱導率 |
準確率：± 5%（1.5 ~ 400 K 溫度範圍）
|
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| Seebeck 係數 |
準確率：±5% 或 ± 100 nV
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| 建議樣品尺寸 |
– 2.5×1.5×6 mm³（適用熱導率 0.1 ~ 2.5 W/m・K）
|
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| 03. 測量儀器 | 核心功能 |
– 2 通道熱電偶讀數
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| 儀器尺寸 | 280 mm × 220 mm × 88 mm（寬 × 高 × 長） | |
| 通訊介面 | USB & GPIB | |
| 04. 軟體 | 環境控制功能 | 溫度、磁場、樣品腔狀態控制 |
| 支持測量類型 | 熱導率、Seebeck 係數、能斯特係數、電阻率、熱霍爾效應 | |
| 核心算法功能 | 自動調整不同溫度下的 ΔT，修正輻射熱損失 |
