品牌：Multi-Field
支援熱膨脹 （ΔL vs T） & 磁致伸縮 （ΔL vs H）測量;
高精度電容位置感測;
1.5至300 K和高達18 Tesla的磁場下可用;
相容多種低溫測量平臺：MultiFields® ColdTUBE， 南京鵬力®， Oxford@ TeslatronPT， QD® PPMS， Cryogenics® 等
高精度電容位置感測;
1.5至300 K和高達18 Tesla的磁場下可用;
相容多種低溫測量平臺：MultiFields® ColdTUBE， 南京鵬力®， Oxford@ TeslatronPT， QD® PPMS， Cryogenics® 等
| 參數分類 | 參數項目 | 規格說明 |
|---|---|---|
| 01. 系統工作環境 | 樣品桿工作環境 | 1.5 ~ 300 K，最高 18 T |
| 可適配平台 | 適配 Oxford TeslatronPT、PPMS、Cryogenics 等第三方低溫系統 | |
| 02. 技術參數 | 測試功能 | 熱膨脹（ΔL vs T）& 磁致伸縮（ΔL vs H） |
| 適用樣品尺寸 | 厚度 L：0.1 mm ~ 6 mm | |
| 測量方法 | 高精度電容式位置感測 | |
| 測量解析度 |
0.05 nm（搭配 AH Series 電容橋）
|
|
| 測量範圍 | ΔL: -0.1 ~ 0.1 mm | |
| 磁場方向配置 | H // ΔL 與 H ⊥ ΔL（磁場平行 / 垂直於樣品伸縮方向） | |
| 背底扣除方式 | 通過無氧銅標準樣品進行背底扣除 | |
| 樣品安裝方式 | 全機械式固定，無需粘接劑 | |
| 選配升級功能 | 電致伸縮（Electrostriction）測試選件 |
