| 參數項目 | 規格說明 |
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| 工作環境 |
溫度:1.4 K ~ 400 K
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| 適配樣品桿外徑 | dia-26 mm / dia-30 mm / dia-50 mm |
| 測量功能 | 直流磁化率、磁滯迴線(M-H)、磁化強度 - 溫度曲線(M-T)、一階翻轉曲線(FORC)等測量 |
| 適用樣品類型 | 各式形態之塊體、薄膜、粉末樣品 |
| 樣品規格限制 |
重量:<20 g
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| 測量量程 | 1 × 10⁻⁵ emu ~ 40 emu |
| 測量準確度 | ± 0.5%(以直徑 2.383 mm 標準圓球校正測試) |
| 雜訊基底 | < 1 × 10⁻⁶ emu(積分時間 1 秒) |
| 可選配配件 | 標準石英樣品桿、無氧銅樣品桿、電控磁樣品桿、光控磁樣品桿、高壓 VSM 樣品桿 |