| 參數項目 | 規格說明 |
|---|---|
| 工作環境 |
溫度:1.4 K ~ 400 K
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| 適配樣品桿外徑 | dia-26 mm / dia-30 mm / dia-50 mm |
| 測量功能 | 交流磁化率、交流磁化率 - 溫度 / 頻率 / 磁場曲線測量等 |
| 適用樣品類型 | 各式形態之塊體、薄膜、粉末樣品 |
| 樣品規格限制 |
重量:<20 g
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| 測量量程 | 信號範圍:1 × 10⁻⁵ emu/Oe ~ 40 emu/Oe |
| 測量準確度 |
幅度:± 0.5%
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| 雜訊基底 | < 1 × 10⁻⁸ emu/Oe(積分時間 1 秒) |
| 可選配配件 | 標準石英樣品桿、無氧銅樣品桿、電控磁樣品桿、光控磁樣品桿、高壓 VSM 樣品桿 |