品牌：Multi-Field
實現介電/鐵電/多鐵一站式測量方案;
可完成薄膜和塊體樣品的介電、鐵電、熱釋電、磁釋電測量;
支援鐵電器件的疲勞和印跡測試;
可搭配低溫光纖，實現光電聯合測量;
相容多種低溫測量平臺： MultiFields® ColdTUBE， 南京鵬力®， Oxford@ TeslatronPT， QD® PPMS， Cryogenics® 等
可完成薄膜和塊體樣品的介電、鐵電、熱釋電、磁釋電測量;
支援鐵電器件的疲勞和印跡測試;
可搭配低溫光纖，實現光電聯合測量;
相容多種低溫測量平臺： MultiFields® ColdTUBE， 南京鵬力®， Oxford@ TeslatronPT， QD® PPMS， Cryogenics® 等
| 參數項目 | 規格說明 |
|---|---|
| 工作環境 |
溫度：1.4 K ~ 400 K
|
| 適配樣品桿外徑 | dia-26 mm / dia-30 mm / dia-50 mm |
| 測量功能 | 電滯迴線、疲勞特性、印跡效應、熱釋電等鐵電物性測量；相容電容、介電係數、阻抗與高電阻測量 |
| 適用樣品類型 | 塊體材料 |
| 樣品尺寸限制 | ＜8 mm × 8 mm × 3 mm |
| 直流電壓範圍 | 最高 1000 V DC |
| 測量頻率範圍 | 0.1 Hz ～ 300 kHz |
| 漏電流指標 | 約 10 fA @ 100 V |
| 寄生電容 | ＜10 fF |
| 可選配配件 | 多場科技 ® 超低漏電陶瓷樣品座、鐵電分析儀；可選整合低溫光纖，實現光電聯合原位測量 |
