品牌：Multi-Field
工作範圍：1.5 ~ 400 K， 最大磁場18 T;
實現介電/鐵電/多鐵一站式測量方案;
可完成薄膜和塊體樣品的介電、鐵電、熱釋電、磁釋電測量;
可插拔樣品拖配合獨特Gaurd設計，實現極低的寄生電阻;
可選低溫光纖，實現光電聯合測量;
相容多種低溫測量平臺：MultiFields® ColdTUBE， 南京鵬力®， Oxford@ TeslatronPT， QD® PPMS， Cryogenics® 等
實現介電/鐵電/多鐵一站式測量方案;
可完成薄膜和塊體樣品的介電、鐵電、熱釋電、磁釋電測量;
可插拔樣品拖配合獨特Gaurd設計，實現極低的寄生電阻;
可選低溫光纖，實現光電聯合測量;
相容多種低溫測量平臺：MultiFields® ColdTUBE， 南京鵬力®， Oxford@ TeslatronPT， QD® PPMS， Cryogenics® 等
| 參數項目 | 規格說明 |
|---|---|
| 工作環境 |
溫度：1.4 K ~ 400 K
|
| 適配樣品桿外徑 | dia-26 mm / dia-30 mm / dia-50 mm |
| 測量功能 | 電容、介電係數、阻抗、高電阻測量；支援電滯迴線與各類鐵電特性測量 |
| 適用樣品類型 | 塊體、薄膜 |
| 樣品尺寸限制 | ＜10 mm × 10 mm × 5 mm |
| 直流電壓範圍 | 最高 200 V DC |
| 測量頻率範圍 | 0.1 Hz ～ 10 MHz |
| 漏電流指標 | 約 10 fA @ 100 V |
| 寄生電容 | ＜10 fF |
| 可搭配選配配件 | 多場科技 ® 超低漏電陶瓷樣品座、鐵電分析儀；可選配整合低溫光纖，實現光電同步聯合測量 |
