鐵磁共振測試系統

品牌：Multi-Field

型號 : FMR (H in plane)/FMR (H out of plane)/ST-FMR (H in plane)/ST-FMR (H out of plane)

數量 :

產品敘述
規格

最高測試頻率 20 GHz & 40 GHz 兩版本;
可實現 FMR， ST-FMR， ISHE & Spin-Pumping 等測量功能;
超高靈敏度可測試 1 nm CoFeB 薄膜樣品;
兩種磁場方向的樣品桿結構，可滿足絕大多數測試需求;
相容多種低溫測量平臺：MultiFields® ColdTUBE，南京鵬力®， Oxford@ TeslatronPT， QD® PPMS， Cryogenics® 等

參數項目	FMR ( H in plane) （磁場平行樣品平面）	FMR ( H out of plane) （磁場垂直樣品平面）	ST-FMR ( H in plane) （磁場平行樣品平面）	ST-FMR ( H out of plane) （磁場垂直樣品平面）
功能 / 選配	可實現薄膜樣品的 FMR 測量、Spin pumping – ISHE 測量相容直流電學測試通道	可實現薄膜樣品的 FMR 測量、Spin pumping – ISHE 測量相容直流電學測試通道	可實現微納器件的 ST-FMR 測量、Spin pumping – ISHE 測量相容直流電學測試通道	可實現微納器件的 ST-FMR 測量、Spin pumping – ISHE 測量相容直流電學測試通道
工作環境	溫度 1.4 K ~ 400 K；氣壓 10⁵ ~ 10⁻⁵ Pa；磁場 0 ~ 18 Tesla	溫度 1.4 K ~ 400 K；氣壓 10⁵ ~ 10⁻⁵ Pa；磁場 0 ~ 18 Tesla	溫度 1.4 K ~ 400 K；氣壓 10⁵ ~ 10⁻⁵ Pa；磁場 0 ~ 18 Tesla	溫度 1.4 K ~ 400 K；氣壓 10⁵ ~ 10⁻⁵ Pa；磁場 0 ~ 18 Tesla
適配外徑	dia-26 mm / dia-30 mm / dia-50 mm	dia-26 mm / dia-30 mm / dia-50 mm	dia-26 mm / dia-30 mm / dia-50 mm	dia-26 mm / dia-30 mm / dia-50 mm
使用頻率	20 / 40 GHz	20 / 40 GHz	20 / 40 GHz	20 / 40 GHz
射頻損耗（輸入端至樣品端）	20 GHz 版本：-6 dB（@ 20 GHz），-18 dB（@ 40 GHz） 40 GHz 版本：-4 dB（@ 20 GHz），-9 dB（@ 40 GHz）	20 GHz 版本：-6 dB（@ 20 GHz），-18 dB（@ 40 GHz） 40 GHz 版本：-4 dB（@ 20 GHz），-9 dB（@ 40 GHz）	20 GHz 版本：-6 dB（@ 20 GHz），-18 dB（@ 40 GHz） 40 GHz 版本：-4 dB（@ 20 GHz），-9 dB（@ 40 GHz）	20 GHz 版本：-6 dB（@ 20 GHz），-18 dB（@ 40 GHz） 40 GHz 版本：-4 dB（@ 20 GHz），-9 dB（@ 40 GHz）
漏電流	< 100 pA @ 100 V	< 100 pA @ 100 V	< 100 pA @ 100 V	< 100 pA @ 100 V
射頻通道	2	2	2	2
直流通道	6	6	8	6
磁場方向	磁場平行於樣品平面	磁場垂直於樣品平面	磁場平行於樣品平面	磁場垂直於樣品平面
樣品類型	薄膜樣品（樣品倒扣至 CPW 表面）	薄膜樣品（樣品倒扣至 CPW 表面）	微納器件（使用 wire-bonding 連接 CPW 和器件）	微納器件（使用 wire-bonding 連接 CPW 和器件）
測量功能	FMR 測量，Spin Pumping – ISHE 電壓測量	FMR 測量，Spin Pumping – ISHE 電壓測量	ST-FMR 測量，Spin Pumping – ISHE 電壓測量	ST-FMR 測量，Spin Pumping – ISHE 電壓測量
可搭配儀錶	多場科技鐵磁共振測試儀錶、商用向量網路分析儀等	多場科技鐵磁共振測試儀錶、商用向量網路分析儀等	多場科技鐵磁共振測試儀錶、商用信號發生器、鎖相放大器等	多場科技鐵磁共振測試儀錶、商用信號發生器、鎖相放大器等